high resolution x-ray diffractometry and topography (en Inglés)
bowen, d. keith
high resolution x-ray diffractometry and topography (en Inglés)
Bowen, D. Keith (Autor) · crc press · Libro Físico
S/ 790,15
S/ 1.580,29
Ahorras: S/ 790,15
Elige la lista en la que quieres agregar tu producto o crea una nueva lista
Ir a Mis Listashigh resolution x-ray diffractometry and topography (en Inglés)
bowen, d. keith
¿Tienes una pregunta sobre el libro? Inicia sesión para poder agregar tu propia pregunta.
