Name: Recent Developments in Atomic Force Microscopy and Raman Spectroscopy for Materials Characterization (en Inglés)
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Availability: InStock
Author: Kumar, Samir ; Pathak, Chandra Shakher
ISBN: 9781839682292

portada Recent Developments in Atomic Force Microscopy and Raman Spectroscopy for Materials Characterization (en Inglés)

Recent Developments in Atomic Force Microscopy and Raman Spectroscopy for Materials Characterization (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Editorial

Intechopen

Autor

Kumar, Samir ; Pathak, Chandra Shakher

Idioma

Inglés

N° páginas

276

Encuadernación

Tapa Dura

Dimensiones

24.4 x 17.0 x 1.8 cm

Peso

0.64 kg.

ISBN13

9781839682292

Categorías

Física de la materia condensada (física del estado líquido y del estado sólido)

Recent Developments in Atomic Force Microscopy and Raman Spectroscopy for Materials Characterization (en Inglés)

Kumar, Samir ; Pathak, Chandra Shakher (Autor) · Intechopen · Tapa Dura

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Reseña del libro "Recent Developments in Atomic Force Microscopy and Raman Spectroscopy for Materials Characterization (en Inglés)"

This book contains chapters that describe advanced atomic force microscopy (AFM) modes and Raman spectroscopy. It also provides an in-depth understanding of advanced AFM modes and Raman spectroscopy for characterizing various materials. This volume is a useful resource for a wide range of readers, including scientists, engineers, graduate students, postdoctoral fellows, and scientific professionals working in specialized fields such as AFM, photovoltaics, 2D materials, carbon nanotubes, nanomaterials, and Raman spectroscopy.