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Defects Spectroscopy in Silicon Diodes: Deep-level traps in semiconductors physics: from ultra-fast recovery to radiation-induced damage
Nicolò Barbero (Autor)
·
Edizioni Accademiche Italiane
· Tapa Blanda
Defects Spectroscopy in Silicon Diodes: Deep-level traps in semiconductors physics: from ultra-fast recovery to radiation-induced damage - Nicolò Barbero
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