Name: mems reliability (en Inglés)
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Author: Hartzell, Allyson L. ; Da Silva, Mark G. ; Shea, Herbert R.
ISBN: 9781461427360

Formato

Libro Físico

Autor

Editorial

Año

2013

Idioma

Inglés

N° páginas

291

Encuadernación

Tapa Blanda

Dimensiones

23.4 x 15.6 x 1.7 cm

Peso

0.44 kg.

ISBN

1461427363

ISBN13

9781461427360

Categorías

Ciencia de materiales
Ingeniería electrónica
Óptica aplicada

mems reliability (en Inglés)

Allyson L. Hartzell (Autor) · Mark G. Da Silva (Autor) · Herbert R. Shea (Autor) · Springer · Tapa Blanda

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Reseña del libro "mems reliability (en Inglés)"

The successful launch of viable MEMs product hinges on MEMS reliability, the reliability and qualification for MEMs based products is not widely understood. Companies that have a deep understanding of MEMs reliability view the information as a competitive advantage and are reluctant to share it.MEMs Reliability, focuses on the reliability and manufacturability of MEMS at a fundamental level by addressing process development and characterization, material property characterization, failure mechanisms and physics of failure (POF), design strategies for improving yield, design for reliability (DFR), packaging and testing.