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portada Scanning Probe Microscopy: Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy (Nanoscience and Technology) (en Inglés)
Formato
Libro Físico
Editorial
Año
2016
Idioma
Inglés
N° páginas
397
Encuadernación
Tapa Blanda
ISBN13
9783662505571
N° edición
1

Scanning Probe Microscopy: Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy (Nanoscience and Technology) (en Inglés)

Bert VoigtlÄNder (Autor) · Springer · Tapa Blanda

Scanning Probe Microscopy: Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy (Nanoscience and Technology) (en Inglés) - Bert VoigtlÄNder

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